РЕАЛИЗУЕМЫЕ МЕТОДЫ

• Структурные исследования материалов на субнанометровом уровне, определение элементного состава исследуемых объектов и построение карт распределения химического состава объектов методами ПЭМ с использованием EDXs и EELS, используемое оборудование ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП TITAN 80-300 (FEI, США) С PROBE- КОРРЕКТОРОМ СФЕРИЧЕСКИХ АБЕРРАЦИЙ
• Структурные и томографические исследования органических объектов (белков, вирусов, молекулярных комплексов и проч.), с возможность заморозки объектов в среде аморфного льда, трехмерная визуализация исследуемых микро- и нано-размерных объектов, используемое оборудование ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ КРИО- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП TITAN KRIOS 60-300 (FEI, США) С IMAGE- КОРРЕКТОРОМ СФЕРИЧЕСКИХ АБЕРРАЦИЙ
• Изучение морфологии поверхности объектов с возможностью нано- литографических работ и картирования элементного состава исследуемых объектов, используемое оборудование РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП HELIOS NANOLAB 600I (FEI, США)
• Локальное препарирование образцов для ПЭМ методом сфокусированного ионного пучка (СИП), используемое оборудование РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП HELIOS NANOLAB 600I (FEI, США)
• Трехмерная реконструкция поверности объектов, а также объемная реконструкция внутренней структуры исследуемых образцов, используемое оборудование РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП HELIOS NANOLAB 600I (FEI, США)
• Комплекс пробоподготовки полного цикла для ПЭМ и СЭМ- исследований, используемое оборудование ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ  ПРОБОПОДГОТОВКИ
• Сканирующая зондовая микроскопия, используемое оборудование СЗМ-УСТАНОВКА ИНТЕГРА-СПЕКТРА , СЗМ-УСТАНОВКА VEECO MULTIMODE 8, СЗМ-УСТАНОВКА ИНТЕГРА-ПРИМА