ОБОРУДОВАНИЕ:

 

  1. Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance
  2. Рентгенофлуоресцентный спектрометр Bruker S4 Pioneer
  3. Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Discover
  4. Рентгеновский дифрактометр Rigaku SmartLab
  5. HECUS S3-MICRO. Комбинированная система мало- и широкоугольного рассеяния рентгеновского излучения
  6. Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр с ПВО Bruker PICOFOX

 

 

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР BRUKER D8 ADVANCE

 

Прибор позволяет решать классические задачи порошковой дифракции:

  • Качественный и количественный фазовый анализ.
  • Определение размеров кристаллитов.
  • Уточнение структуры

Особенности прибора:

  • Вертикальный гониометр
  • Возможность съемки с использованием зеркала Гебеля (параболическое многослойное интерференционное зеркало)

 

 

РЕНТГЕНОФЛуОРЕСЦЕНТНЫЙ СПЕКТРОМЕТР BRUKER S4 PIONEER

Безэталонный многоэлементный анализ порошковых проб, прессованных таблеток, сплавленных дисков различных материалов, жидкостей, минералов, руд, керамики, металлов, стёкол, полимеров, углеводородов, для исследований малых и нестандартных проб, для анализа микропримесей

 

Возможности:

  • анализируемые элементы от углерода до урана
  • нижние пределы концентрации обнаружения элемента от 10-4 до 10-2 %
  • относительная ошибка  –  1-10% в зависимости от элемента
  • возможность измерения в газовой атмосфере гелия или азота для анализа жидкостей и сыпучих порошков

 

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР BRUKER D8 DISCOVER

Прибор позволяет решать следующие задачи:

  • Рентгеноструктурный анализ
  • Качественный и количественный фазовый анализ
  • Рентгенодифракционные и рентгенорефлектометрические измерения различных параметров (толщин аморфных и кристаллических слоёв, параметров кристаллических решёток, дефектов в кристаллических решётках, напряжений и релаксаций, химического состава, шероховатости поверхности и гетерограниц, ориентаций подложек и эпитаксиальных слоёв и др.) тонких плёнок, полупроводниковых и магнитных материалов, для решения задач метрологии

 

Возможности:

  • Горизонтальный гониометр
  • Геометрия съемки θ/2θ -110° < <168°, θ -180°< θ<360°
  • Наименьший шаг 0,0001°
  • Воспроизводимость ±0,0001°
  • Максимальная угловая скорость 30°/с

 

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР RIGAKU SMARTLAB

Многоцелевой полностью автоматический рентгеновский дифрактометр оборудованный вертикальным гониометром высокой точности с горизонтальным расположением исследуемого образца. В состав оборудования входит рентгеновский генератор высокой интенсивности с вращающимся анодом 9 кВт

 

Предназначен для исследования различных материалов:

  • порошки
  • массивные материалы
  • тонкие плёнки

 

Возможности:

  • идентификация фазы кристаллических структур
  • определение размера кристаллитов
  • определение совершенства кристаллической структуры, ориентации и структуры тонких плёнок, распределения размеров наночастиц и пор
  • установление параметров многослойных структур (толщина, плотность, шероховатость поверхности и гетерограниц)
  • проведение одновременного рентгеноструктурного и калориметрического анализа

 

 

HECUS S3-MICRO. КОМБИНИРОВАННАЯ СИСТЕМА МАЛО- И ШИРОКОУГЛОВОГО РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Применяется для изучения твёрдых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров, тонких плёнок, а также для решения задач биомедицины. Позволяет решать задачи построения моделей биомакромолекул, определения структурных параметров пор (распределения по размерам, формы) в различных веществах, восстановления структуры кластеров в частично упорядоченных системах, определения структурных параметров вкраплений в твёрдой матрице и другое

 

РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР С ПВО BRUKER PICOFOX

Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением (РФА ПВО или TXRF) является особым энергодисперсионным методом, так как имеет специальную геометрию расположения источника возбуждения и детектора флуоресцентного излучения. Узкий рентгеновский пучок падает на подложку с образцом под малым углом (0.3...0.6°) и отражается поверхностью под действием эффекта полного внешнего отражения. Использование такого принципа позволяет уменьшить эффекты рассеяния, а также расположить детектор очень близко к пробе, что в свою очередь повышает эффективность регистрации флуоресцентного излучения. В результате чувствительность прибора возрастает на несколько порядков (до долей ppb). Прибор не требует для работы дополнительного охлаждения и подвода газа, а максимальная потребляемая мощность составляет всего 180 Вт

 

 

 

© НИЦ "Курчатовский институт"