Прибор позволяет решать классические задачи порошковой дифракции:

• Качественный и количественный фазовый анализ.
• Определение размеров кристаллитов.
• Уточнение структуры

Особенности прибора:

• Вертикальный гониометр
• Возможность съемки с использованием зеркала Гебеля (параболическое многослойное интерференционное зеркало)

Безэталонный многоэлементный анализ порошковых проб, прессованных таблеток, сплавленных дисков различных материалов, жидкостей, минералов, руд, керамики, металлов, стёкол, полимеров, углеводородов, для исследований малых и нестандартных проб, для анализа микропримесей

Возможности:

• анализируемые элементы от углерода до урана
• нижние пределы концентрации обнаружения элемента от 10-4 до 10-2 %
• относительная ошибка  –  1-10% в зависимости от элемента
• возможность измерения в газовой атмосфере гелия или азота для анализа жидкостей и сыпучих порошков

Прибор позволяет решать следующие задачи:

• Рентгеноструктурный анализ
• Качественный и количественный фазовый анализ
• Рентгенодифракционные и рентгенорефлектометрические измерения различных параметров (толщин аморфных и кристаллических слоёв, параметров кристаллических решёток, дефектов в кристаллических решётках, напряжений и релаксаций, химического состава, шероховатости поверхности и гетерограниц, ориентаций подложек и эпитаксиальных слоёв и др.) тонких плёнок, полупроводниковых и магнитных материалов, для решения задач метрологии

Возможности:

• Горизонтальный гониометр
• Геометрия съемки θ/2θ -110° < 2θ <168°, θ -180°< θ<360°
• Наименьший шаг 0,0001°
• Воспроизводимость ±0,0001°
• Максимальная угловая скорость 30°/с

Многоцелевой полностью автоматический рентгеновский дифрактометр оборудованный вертикальным гониометром высокой точности с горизонтальным расположением исследуемого образца. В состав оборудования входит рентгеновский генератор высокой интенсивности с вращающимся анодом 9 кВт

Предназначен для исследования различных материалов:

• порошки
• массивные материалы
• тонкие плёнки

Возможности:

• идентификация фазы кристаллических структур
• определение размера кристаллитов
• определение совершенства кристаллической структуры, ориентации и структуры тонких плёнок, распределения размеров наночастиц и пор
• установление параметров многослойных структур (толщина, плотность, шероховатость поверхности и гетерограниц)
• проведение одновременного рентгеноструктурного и калориметрического анализа

Применяется для изучения твёрдых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров, тонких плёнок, а также для решения задач биомедицины. Позволяет решать задачи построения моделей биомакромолекул, определения структурных параметров пор (распределения по размерам, формы) в различных веществах, восстановления структуры кластеров в частично упорядоченных системах, определения структурных параметров вкраплений в твёрдой матрице и другое

Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением (РФА ПВО или TXRF) является особым энергодисперсионным методом, так как имеет специальную геометрию расположения источника возбуждения и детектора флуоресцентного излучения. Узкий рентгеновский пучок падает на подложку с образцом под малым углом (0.3...0.6°) и отражается поверхностью под действием эффекта полного внешнего отражения. Использование такого принципа позволяет уменьшить эффекты рассеяния, а также расположить детектор очень близко к пробе, что в свою очередь повышает эффективность регистрации флуоресцентного излучения. В результате чувствительность прибора возрастает на несколько порядков (до долей ppb). Прибор не требует для работы дополнительного охлаждения и подвода газа, а максимальная потребляемая мощность составляет всего 180 Вт